X-Rite i1 Profiler : une nouvelle référence en matière d’étalonnage (première partie)
Publié le 5 mai 2011 dans Articles et dossiers par Volker Gilbert

Configuration requise
Mac
Processeur Intel, Mac OS X 10.5.8 ou 10.6 (avec les dernières mises à niveau installées), 1 Go de mémoire RAM, 2 Go d’espace disque dur disponible, résolution d‘écran de 1024 × 600 pixels ou supérieure ; l’affichage sur deux moniteurs nécessite deux cartes vidéo ou une carte vidéo double moniteur prenant en charge le chargement des tables de conversion pour deux écrans. Port USB alimenté, lecteur de DVD ou connexion Internet haut débit pour télécharger le logiciel, connexion Internet requise pour les mises à jour du logiciel et droits d’administrateur pour installer et désinstaller l’application.
Windows
Processeur Intel Pentium 4 ou Athlon ou plus puissant, Windows XP 32 ou 64 bits, Windows Vista 32 ou 64 bits, Windows 7 32 ou 64 bits (avec les dernièrs Service Packs installées), 1 Go de mémoire RAM, 2 Go d’espace disque dur disponible, résolution d‘écran de 1024 × 600 pixels ou supérieure ; l’affichage sur deux moniteurs nécessite deux cartes vidéo ou une carte vidéo double moniteur prenant en charge le chargement des tables de conversion pour deux écrans. Port USB alimenté, lecteur de DVD ou connexion Internet haut débit pour télécharger le logiciel, connexion Internet requise pour les mises à jour du logiciel et droits d’administrateur pour installer et désinstaller l’application.
Langues disponibles:
Chinois (simplifié), Anglais, Français, Allemand, Italien, Japonais, Portugais et Espagnol
Caractéristiques du spectrophotomètre i1 Pro:
- Instrument de mesure spectrale (modes de mesure pris en charge) : mesure unique en réflexion, mesure par balayage en réflexion avec détection automatique des patchs
- Émission : mesure de la radiance (mesure du moniteur) et de l’irradiance (mesure de la lumière)
- Analyseur spectral : réseau de diffraction holographique avec barrette de diodes de 128 pixels
- Résolution optique : 10 nm
- Intervalle d‘échantillonnage physique : 3,5 nm
- Données spectrales : Plage : 380 … 730 nm par échelons de 10 nm
- Ouverture de mesure : 4,5 mm de diamètre
- Interface : USB 1.1
- Dimensions physiques : 151 mm (L) x 66 mm (l) x 67 mm (H)
- Poids : 185 g
- Géométrie de mesure : Optique circulaire 45°/0°, DIN 5033
- Source lumineuse : Lampe tungstène à gaz (Type A)
- Filtres physiques : Sans filtre ou avec filtre UVcut (filtres non interchangeables)
- Accord inter-instrument : DE*94 moy. 0,4, DE*94 max. 1,0 (déviation par rapport au standard de fabrication X-Rite à une température de 23° C sur 12 carreaux BCRA [D50, 2°])
- Répétabilité à court terme : DE*94 <= 0,1 (D50 ,2°), par rapport à la valeur CIELab moyenne de 10 mesures toutes les 3 secondes sur le blanc
- Format des données : Radiance spectrale (mW/nm/m2 /sr), luminance Y (cd/m2)
- Plage de mesure : 0.2 … 300 cd/m2
- Répétabilité à court terme : x,y : +/- 0,002 standard (écran CRT 5000°K, 80 cd/m2)
- Type : Tête de mesure de la lumière diffuse à correction de cosinus
- Diamètre : 6,0 mm
- Format des données : Irradiance spectrale (mw/nm/m2), illuminance Y (lux)
- Alimentation : Alimentation de l’instrument par USB. Ne nécessite aucun chargeur ou batterie supplémentaire. Instrument USB 1.1 de forte puissance
- Réglette i1 : 33,5 cm x 17 cm
- Support réglette i1 : 35,5 cm x 26,5 cm (plié), 35,5 cm x 40 cm (déplié)