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X-Rite i1 Profiler : une nouvelle référence en matière d’étalonnage (première partie)

Configuration requise

Mac
Processeur Intel, Mac OS X 10.5.8 ou 10.6 (avec les dernières mises à niveau installées), 1 Go de mémoire RAM, 2 Go d’espace disque dur disponible, résolution d‘écran de 1024 × 600 pixels ou supérieure ; l’affichage sur deux moniteurs nécessite deux cartes vidéo ou une carte vidéo double moniteur prenant en charge le chargement des tables de conversion pour deux écrans. Port USB alimenté, lecteur de DVD ou connexion Internet haut débit pour télécharger le logiciel, connexion Internet requise pour les mises à jour du logiciel et droits d’administrateur pour installer et désinstaller l’application.

Windows
Processeur Intel Pentium 4 ou Athlon ou plus puissant, Windows XP 32 ou 64 bits, Windows Vista 32 ou 64 bits, Windows 7 32 ou 64 bits (avec les dernièrs Service Packs installées), 1 Go de mémoire RAM, 2 Go d’espace disque dur disponible, résolution d‘écran de 1024 × 600 pixels ou supérieure ; l’affichage sur deux moniteurs nécessite deux cartes vidéo ou une carte vidéo double moniteur prenant en charge le chargement des tables de conversion pour deux écrans. Port USB alimenté, lecteur de DVD ou connexion Internet haut débit pour télécharger le logiciel, connexion Internet requise pour les mises à jour du logiciel et droits d’administrateur pour installer et désinstaller l’application.

Langues disponibles:
Chinois (simplifié), Anglais, Français, Allemand, Italien, Japonais, Portugais et Espagnol

Caractéristiques du spectrophotomètre i1 Pro:

  • Instrument de mesure spectrale (modes de mesure pris en charge) : mesure unique en réflexion, mesure par balayage en réflexion avec détection automatique des patchs
  • Émission : mesure de la radiance (mesure du moniteur) et de l’irradiance (mesure de la lumière)
  • Analyseur spectral : réseau de diffraction holographique avec barrette de diodes de 128 pixels
  • Résolution optique : 10 nm
  • Intervalle d‘échantillonnage physique : 3,5 nm
  • Données spectrales : Plage : 380 … 730 nm par échelons de 10 nm
  • Ouverture de mesure : 4,5 mm de diamètre
  • Interface : USB 1.1
  • Dimensions physiques : 151 mm (L) x 66 mm (l) x 67 mm (H)
  • Poids : 185 g
  • Géométrie de mesure : Optique circulaire 45°/0°, DIN 5033
  • Source lumineuse : Lampe tungstène à gaz (Type A)
  • Filtres physiques : Sans filtre ou avec filtre UVcut (filtres non interchangeables)
  • Accord inter-instrument : DE*94 moy. 0,4, DE*94 max. 1,0 (déviation par rapport au standard de fabrication X-Rite à une température de 23° C sur 12 carreaux BCRA [D50, 2°])
  • Répétabilité à court terme : DE*94 <= 0,1 (D50 ,2°), par rapport à la valeur CIELab moyenne de 10 mesures toutes les 3 secondes sur le blanc
  • Format des données : Radiance spectrale (mW/nm/m2 /sr), luminance Y (cd/m2)
  • Plage de mesure : 0.2 … 300 cd/m2
  • Répétabilité à court terme : x,y : +/- 0,002 standard (écran CRT 5000°K, 80 cd/m2)
  • Type : Tête de mesure de la lumière diffuse à correction de cosinus
  • Diamètre : 6,0 mm
  • Format des données : Irradiance spectrale (mw/nm/m2), illuminance Y (lux)
  • Alimentation : Alimentation de l’instrument par USB. Ne nécessite aucun chargeur ou batterie supplémentaire. Instrument USB 1.1 de forte puissance
  • Réglette i1 : 33,5 cm x 17 cm
  • Support réglette i1 : 35,5 cm x 26,5 cm (plié), 35,5 cm x 40 cm (déplié)

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4 commentaires “X-Rite i1 Profiler : une nouvelle référence en matière d’étalonnage (première partie)

  1. Bonjour Volker
    C’est une solution simple et efficace que nous livre XRITE. Effectivement i1 Profiler rend bien des services comme on pû le constater les personnes qui étaient présentes hier (5 mai) à la Maison du Photographe lors de la présentation du produit en live (assurée par XRITE et moi même). Comme tu le dis, je regrette la non faisabilité de création de profil APN. Pour ma part ne voulant pas traiter mes RAW (ou ceux qu’on me confie en traitement) à travers LR ou ACR j’aurais voulu ne pas devoir passer par mes anciens logiciels pour créer les profils icc adéquates. Comme la signalé hier Jean Delmas qui était présent, espérons le fait que XRITE nous rajoute cette possibilité manquante (ainsi que pour le scan) dans une prochaine mise à jour (j’ai soumis la demande dés mes premiers jours de tests qui remontent bien avant le salon de la photo 2010).
    Quant à la partie écran (ici pour une calibration software), tu ne dis rien sur des choses sur lesquelles les utilisateurs sont pourtant habitués à savoir qu’à travers i1 on n’a plus accès à la possibilité de régler les canaux afin d’adapter la température par exemple.
    En tous les cas i1 est solution abordable qui va rendre de grands services à plus d’un 😉

  2. @COULEUR-ICC : bonjour Pascal. Il est vrai qu’il manque au logiciel le réglage des canaux RVB mais j’avoue que je sous-exploite cette fonctionnalité avec mes écrans TFT. Ne s’agit-il pas plutôt d’une fonction héritée des bons vieux écrans CRT ?
    Quant à la création de profils pour les périphériques d’entrée, je regrette, moi aussi, leur abandon. Cependant, SilverFast et VueScan se débrouillent plutôt bien pour la caractérisation des scanners et il ne faut pas oublier que les logiciels de développement RAW « non-Adobe » ne concernent aujourd’hui que moins de 10 % des photographes.

  3. Bonjour Volker
    Non la fonction est utile aussi pour les plats n’exploitant pas les possibilités dite hardware tel que CG Eizo ou SV Nec (pour ne citer que les deux meilleurs).
    Pour tout ce qui touche à la création de profil j’ai toujours eu mes attaches chez Xrite pu Gretag (enfin feu Gretag) trouvant la qualité finale tout de même au dessus.
    Je te trouve optimiste sur les moins de 10% restant, ces chiffres sortent d’où ? En sachant que je préfère toujours les marchés de niche

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